问题

描述中心位置的统计量包括( )。

A.样本方差

B.样本均值

C.样本中位数

D.样本标准差

参考答案
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  • 不合格合计为( )。A.40B.37C.10D.14
  • 某元件的质量特性X服从正态分布,即X~N(μ,σ2)USL与LSL为它的上下规范限,不合格品率P=PL+PU,其中( )。A.PL=φ[(LSL—μ)/σ]B.PL=1-φ[(LSL—μ)/σ]C.J
  • 请回答第 89~90 题:第 89 题 如果所控制对象只有合格品与不合格品两种结果,则可以采用( )。A.R控制图B.P控制图C.X控制图D.印控制图
  • ( )是与审核准则有关的并且能够证实的记录、事实陈述和其他信息A.审核发现B.审核证据C.审核准则D.审核结论
  • 设X服从标准正态分布,且0A.e(x>a)=P(Xa)=1-φ(a)B.P(α≤X≤b)=φ(b)-φ(a)C.P(X=a)=0D.P(-a
  • 如果所控制的对象只有单位不合格数与不合格数两种结果,则可以采用( )。A.u控制图B.c控制图C.R控制图D.X控制图E.s控制图
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